SRM1765是美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（NIST）聯(lián)合ASTM國際研制的低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品，1993年發(fā)布定值，專為光學(xué)發(fā)射光譜法及X射線光譜法分析設(shè)計，量值溯源至SI質(zhì)量分?jǐn)?shù)單位。SRM1765 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品在規(guī)定儲存與操作條件下認(rèn)證有效期無限期，是低合金鋼痕量及主量元素分析的核心量值統(tǒng)一基準(zhǔn)。

該標(biāo)準(zhǔn)品為圓盤狀結(jié)構(gòu)，直徑約34mm、厚度19mm，單元含一塊圓盤。測試面經(jīng)銑床精加工，需密封存放于陰涼干燥處防污染。原子發(fā)射與X射線光譜法檢測均適配， homogeneity測試明確各元素均值標(biāo)準(zhǔn)偏差，涵蓋材料與儀器雙重變異性，需依檢測技術(shù)規(guī)范制備表面。

定值經(jīng)多實驗室協(xié)同完成，含16種元素認(rèn)證值，核心質(zhì)量分?jǐn)?shù)：碳0.154%、鉻0.051%、錳0.0052%、磷0.144%、硫0.0038%，釩0.0013%、鎳0.0040%。雜質(zhì)元素鉛0.0003%、砷0.0010%、錫0.002%等，不確定度綜合方法不精密度、系統(tǒng)誤差及材料變異性，無精確統(tǒng)計量。

SRM1765 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品廣泛應(yīng)用于冶金、質(zhì)檢實驗室，可校準(zhǔn)光譜檢測儀器、驗證分析方法可靠性，為低合金鋼成分精準(zhǔn)管控提供可溯源依據(jù)。硅、鋁等元素僅提供參考含量，非認(rèn)證值僅作補充信息。

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